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| 商品编码 | 90221990.20 |
| 商品名称 | X射线晶圆制造厚度测量设备 |
| 商品描述 | X射线晶圆制造厚度测量设备 |
| 英文名称 | X-ray wafer thickness measuring equipment |
CIQ代码(13位海关编码)
| HS编码 | 商品信息 |
|---|---|
| 9022199020.999 | X射线晶圆制造厚度测量设备 |
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| 商品编码 | 90221990.20 |
| 商品名称 | X射线晶圆制造厚度测量设备 |
| 商品描述 | X射线晶圆制造厚度测量设备 |
| 英文名称 | X-ray wafer thickness measuring equipment |
| HS编码 | 商品信息 |
|---|---|
| 9022199020.999 | X射线晶圆制造厚度测量设备 |