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| 商品编码 | 90314100.00 |
| 商品名称 | 制造半导体器件（包括集成电路）时检验半导体晶圆、器件（包括集成电路）或检测光掩模或光栅用的仪器和器具 |
| 商品描述 | 制造半导体器件（包括集成电路）时检验半导体晶圆、器件（包括集成电路）或检测光掩模或光栅用的仪器和器具第90章其他税目未列名的 |
| 英文名称 | Other optical instruments and appliances For inspecting semiconductor wafers or devices or for inspecting photomasks or reticles used in manufacturing semiconductor devices |
CIQ代码(13位海关编码)
| HS编码 | 商品信息 |
|---|---|
| 9031410000.999 | 制造半导体器件的检测仪和器具(第90章其他品目未列名的,包括检测光掩模及光栅用的) |
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