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| 商品编码 | 90308200.00 |
| 商品名称 | 测试或检验半导体晶圆或器件（包括集成电路）用的仪器 |
| 商品描述 | 测试或检验半导体晶圆或器件（包括集成电路）用的仪器 |
| 英文名称 | Other instruments and apparatus For measuring or checking semiconductor wafers or devices |
HS编码 90308200.00 申报实例信息,收录数 476 条
| HS编码 | 商品名称 | 商品规格 |
|---|---|---|
| 90308200.00 | 高温耐久力测试机 | 测试电阻晶元的耐久力|通过高压电流达到高温,测试晶元在高压电 |
| 90308200.00 | 快速电学参数测试机 | 测试集成电路晶圆片的参数|电参数快速测试|带记录装置| |
| 90308200.00 | 快速电学参数测试机(租凭费) | 测试集成电路晶圆片的参数|电参数快速测试|带有记录装置 |
| 90308200.00 | 无线网络测试仪 | LITEPOINT牌/IQXEL-M |
| 90308200.00 | 集成块测试机（旧） | 检查集成电路产品的电压，电流|将模拟信号转变成数字信号 |
| 90308200.00 | 测试机 | 用于测试无线通讯芯片|测试芯片的环路|不带记录装置|A |
所属分类及章节、品目
| 类目 | |
| 章节 | |
| 品目「9030」 | 示波器、频谱分析仪及其他用于电量测量或检验的仪器和装置，但不包括品目9028的各钟仪表；α射线、β射线、γ射线、X射线、宇宙射线或其他离子射线的测量或检验仪器及装置 |
| 90308 | 其他仪器及装置: |
| 90308200 | 测试或检验半导体晶片或器件用 |
上一编码实例：90304090.00-其他无线电通讯专用仪器及装置
下一编码实例：90308410.00-电感及电容测试仪