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| 商品编码 | 90308200.00 |
| 商品名称 | 测试或检验半导体晶圆或器件（包括集成电路）用的仪器 |
| 商品描述 | 测试或检验半导体晶圆或器件（包括集成电路）用的仪器 |
| 英文名称 | Other instruments and apparatus For measuring or checking semiconductor wafers or devices |
CIQ代码(13位海关编码)
| HS编码 | 商品信息 |
|---|---|
| 9030820000.999 | 检测半导体晶片或器件的仪器(包括测试或检验半导体晶片或元器件用的装置) |
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