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| 商品编码 | 90308200.00 |
| 商品名称 | 测试或检验半导体晶圆或器件（包括集成电路）用的仪器 |
| 商品描述 | 测试或检验半导体晶圆或器件（包括集成电路）用的仪器 |
| 英文名称 | Other instruments and apparatus For measuring or checking semiconductor wafers or devices |
HS编码 90308200.00 申报实例信息,收录数 476 条
| HS编码 | 商品名称 | 商品规格 |
|---|---|---|
| 90308200.00 | 低压力延长测试仪 | ;;;;;210 |
| 90308200.00 | 颗粒碰撞噪声检测仪/检测SD碰撞 | 器件/4511L加速度2500G振动25.5B |
| 90308200.00 | 集成电路分捡测试臂 | D9000 |
| 90308200.00 | 半导体器件检验仪 | DagyBT14/八成新 |
| 90308200.00 | IS测试仪 | CAS140B |
| 90308200.00 | 硅片电阻率测试仪 | SEMILAB EPIMENT 300/06801 |
| 90308200.00 | 半导体检测仪: | 1用于半导体外观检测及包装IC2.型号:TR18/TR18MK11,技 |
| 90308200.00 | ICT针床 | 测试产品电路板短断路及各零件测试 |
| 90308200.00 | 自动微调机 | SFE-304TMW |
| 90308200.00 | 开发测试板 | WSN-PR02110CA(8350-0726-01),CROSSBOW牌 |
所属分类及章节、品目
| 类目 | |
| 章节 | |
| 品目「9030」 | 示波器、频谱分析仪及其他用于电量测量或检验的仪器和装置，但不包括品目9028的各钟仪表；α射线、β射线、γ射线、X射线、宇宙射线或其他离子射线的测量或检验仪器及装置 |
| 90308 | 其他仪器及装置: |
| 90308200 | 测试或检验半导体晶片或器件用 |
上一编码实例：90304090.00-其他无线电通讯专用仪器及装置
下一编码实例：90308410.00-电感及电容测试仪