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| 商品编码 | 90308200.00 |
| 商品名称 | 测试或检验半导体晶圆或器件（包括集成电路）用的仪器 |
| 商品描述 | 测试或检验半导体晶圆或器件（包括集成电路）用的仪器 |
| 英文名称 | Other instruments and apparatus For measuring or checking semiconductor wafers or devices |
HS编码 90308200.00 申报实例信息,收录数 476 条
| HS编码 | 商品名称 | 商品规格 |
|---|---|---|
| 90308200.00 | 集成块测试机(旧) | 测试集成电路|检查集成电路产品的电压|有记录装置|TE |
| 90308200.00 | 检测半导体晶片或器件的仪器 | 包括测试或检验半导体晶片或元器件用的装置 |
| 90308200.00 | 码轮型编码器 | 测量用|量测距离,机器内部使用|不带记录装 |
| 90308200.00 | 轴心型编码器 | 测量用|量测距离,机器内部使用|不带记录装 |
| 90308200.00 | 半导体测试仪 | 半导体电学性能测试|测量半导体中载流子的浓度|带记录装 |
| 90308200.00 | 图示仪 | 用于检测半导体晶片或器件的仪器|检测半导体晶片的电流, |
| 90308200.00 | LED量测仪 | 可量测封装于LED支架上的LED芯片光电特性|机械传动 |
| 90308200.00 | 测试分选机 | 用于各种封装形式的半导体芯片出厂前的最终性能测试|根据 |
| 90308200.00 | (旧)缺陷测试设备 | 用于芯片外观缺陷扫描|通过光学扫描与标准图片进行对比来 |
| 90308200.00 | LED测试机 | 起检测作用|利用积分球检测成品LED|带记录装置|LI |
所属分类及章节、品目
| 类目 | |
| 章节 | |
| 品目「9030」 | 示波器、频谱分析仪及其他用于电量测量或检验的仪器和装置，但不包括品目9028的各钟仪表；α射线、β射线、γ射线、X射线、宇宙射线或其他离子射线的测量或检验仪器及装置 |
| 90308 | 其他仪器及装置: |
| 90308200 | 测试或检验半导体晶片或器件用 |
上一编码实例：90304090.00-其他无线电通讯专用仪器及装置
下一编码实例：90308410.00-电感及电容测试仪